Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: 倒立型 エミッション顕微鏡 Inverted Emission Microscope ア イ フ ィ ー モ ス PHEMOS シリーズ -MP -TP -TD -SD ア イ フ ィ ー モ ス 特長 ● テスタへのダイレクトドッキングによりダイナミック解析が可能
|
Original
|
PDF
|
SSMS0019J19
NOV/2014
|
Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: H解析 OBIRC 新機能 New from Hamamatsu デジタルロックインキット M10383 画像取得時間が短くても画質の劣化が少なく明瞭な画像を取得。 時間分解解析により、信号遅延箇所の特定が容易になりました。
|
Original
|
PDF
|
M10383
M10383ã
AMOS-200
A9188-01ã
SSMS0028J02
JUL/2008
|
L9657
Abstract: S10604
Text: 2007 Vol.2 E x h i b i t i o n s NEWS 2007 Vol.2 NEWS Belgium / Denmark / France / Germany / Italy / Netherlands / North Europe & CIS / November Vision 2007 Stuttgart / Germany UKAEA (Oxford / UK) Productronica 2007 (Munich / Germany) 35th Scottish Microscopy Symposium
|
Original
|
PDF
|
SE-17141
52/1A
RU-113054
L9657
S10604
|
Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: エミッション顕微鏡 Emission Microscope フ ィ ー モ ス Ｒ PHEMOS -1000 異 常動 作に伴う微弱発光をとらえ 迅 速に 的確に、故障箇所を特定 フ ィ ー モ ス エミッション顕微鏡「PHEMOS」は、 半導体デバイス動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、
|
Original
|
PDF
|
SSMS0003J18
NOV/2014
|
PHEMOS-200
Abstract: No abstract text available
Text: Emission Microscope R series Reveals “Invisible” Defects and Failures Detects very faint emissions caused by anomalies quickly and accurately to determine failure locations. The PHEMOS series of emission microscope is a group of semiconductor failure analysis tools that detect faint emissions caused by semiconductor
|
Original
|
PDF
|
SE-164
SSMS0003E12
JAN/2013
PHEMOS-200
|